移動式高溫老化房應(yīng)用于對驅(qū)動器等關(guān)鍵部件進(jìn)行高溫、惡劣環(huán)境測試，以模擬產(chǎn)品在長期使用過程中可能遇到的各種環(huán)境因素，從而發(fā)現(xiàn)和改善產(chǎn)品不足的地方，提高產(chǎn)品可靠性，夯實(shí)產(chǎn)品質(zhì)量。應(yīng)用范圍較為廣泛，可以在不同領(lǐng)域提供靈活且高效的解決方案，此外，移動式老化房還可應(yīng)用于電子、電腦、通訊等領(lǐng)域

移動式高溫老化房的特點(diǎn)包括：

1、移動方便：移動式老化房設(shè)計靈活，可以輕松地移動到不同的地點(diǎn)，非常適合在生產(chǎn)線、倉庫等場所使用。

2、快速部署：移動式老化房可以在短時間內(nèi)設(shè)置和部署，無需進(jìn)行長時間的安裝和調(diào)試，大大縮短了設(shè)備到位時間。

3、可定制化：可以根據(jù)客戶的需求進(jìn)行定制，包括內(nèi)部的老化系統(tǒng)、溫度控制、濕度控制等參數(shù)，以滿足不同產(chǎn)品的測試需求。

4、高可靠性：采用高品質(zhì)的材料和設(shè)備，保證了設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。此外，移動式老化房還具有溫度控制準(zhǔn)確、房間設(shè)定溫度范圍廣、連續(xù)可調(diào)等特點(diǎn)。

5、節(jié)能環(huán)保：通常采用*節(jié)能技術(shù)，如智能溫度控制、能源回收等，有效地降低能源消耗和環(huán)境污染。

6、結(jié)構(gòu)合理：移動式老化房的設(shè)計應(yīng)合理安排測試產(chǎn)品的放置和布局，方便產(chǎn)品的放置和測試。同時，應(yīng)具有一定的承重能力，以確保能夠支撐測試產(chǎn)品的重量。

7、安全可靠：移動式老化房應(yīng)具有安全保護(hù)功能，如過載保護(hù)、漏電保護(hù)等，以確保操作人員的安全。此外，老化房還應(yīng)具有良好的通風(fēng)和散熱能力，以避免測試產(chǎn)品過熱或受損。

8、易于維護(hù)：移動式老化房應(yīng)方便維修和更換，以便在需要時方便地進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部進(jìn)行維護(hù)和檢修。同時，設(shè)備的部件應(yīng)選用國內(nèi)外廠家的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和功能。

移動式老化房技術(shù)參數(shù)：

有效容積：約 22m3（單間）

內(nèi)部有效尺寸：2000*5000*2200（mm）  寬*深*高

外房尺寸：約2100*5100*2300（mm） 寬*深*高

重量：約1100kg

溫控功能：高溫房內(nèi)溫度可監(jiān)控、可自動調(diào)整、有趨勢監(jiān)控記錄，帶排風(fēng)降溫功能

溫控方式：每兩間老化房采用一套控制系統(tǒng)和加熱循環(huán)系統(tǒng)，可獨(dú)立程式/定值運(yùn)行

加熱方式：電熱內(nèi)循環(huán)風(fēng)

溫度范圍：RT+10℃～70℃

每間控制精度：溫度波動：≤±1℃（空載）

溫度均勻度：≤±3℃（空載）

溫度分辨率： 0.01℃

溫度傳感器：PT100

升溫時間：RT-->設(shè)定溫度（65℃）30分鐘內(nèi)

電熱功率：約AC 380V  50 HZ   18KW

運(yùn)行方式：程序方式 / 定值方式

在選擇移動式老化房時，需要考慮以下因素：

1、箱體材質(zhì)：通常采用雙面彩鋼保溫庫板組合而成，以保證箱體的保溫性能和強(qiáng)度。

2、溫度控制：需要選擇合適的溫度控制方式，如電加熱、熱水加熱等，以滿足不同產(chǎn)品的測試需求。

3、濕度控制：如果需要測試產(chǎn)品對濕度的敏感性，需要選擇合適的濕度控制方式，如加濕器、除濕器等。

4、安全性能：需要選擇具有安全保護(hù)功能的老化房設(shè)備，如過載保護(hù)、漏電保護(hù)等，以確保操作人員的安全。

5、售后服務(wù)：需要選擇具有完善售后服務(wù)的品牌和廠家，以保證設(shè)備在使用過程中的維護(hù)和保養(yǎng)。

移動式老化房試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參考如下：

GB/T 2423.24-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ja：低溫試驗(yàn)》和GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ib：高溫試驗(yàn)》，這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了產(chǎn)品在低溫、高溫環(huán)境下的性能和可靠性測試要求和方法。

GB/T 2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了產(chǎn)品在恒定濕熱環(huán)境下的性能和可靠性測試要求和方法。

GB/T 17408-1998《電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了產(chǎn)品在高低溫低氣壓環(huán)境下的性能和可靠性測試要求和方法。

GB/T 2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea：沖擊試驗(yàn)》，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了產(chǎn)品在沖擊環(huán)境下的性能和可靠性測試要求和方法。

GB/T 2423.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動（正弦）試驗(yàn)》，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了產(chǎn)品在振動環(huán)境下的性能和可靠性測試要求和方法。