| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 應用領域 | 環(huán)保,化工 |
對自然狀態(tài)下的材料進行原位研究：具有環(huán)境模式的高分辨場發(fā)射掃描電鏡 (ESEM)。原位分析的溫度范圍為 -165°C 至 1400°C，搭配使用各種冷臺和熱臺。
低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/無脫水成像和分析。
在各種操作模式下均可實現(xiàn) SE 和 BSE 同時成像。
優(yōu)異的分析能力來自可以最多同時使用 3 個 EDS 檢測器的腔室，并具有對稱180°的 EDS 接口、WDS接口以及和EDS幾何共面的EBSD接口。對非導電樣品的出色分析：在低真空條件下，Quattro ESEM高溫掃描電鏡的減小電子束散射技術可實現(xiàn)準確的 EDS 和 EBSD。
靈活且精確的優(yōu)中心樣品臺，傾斜范圍達 105°，可從各個角度觀察樣品。
直觀易用且?guī)в杏脩糁改虾统废δ艿能浖Ｊ褂酶俚氖髽它c擊，更快速地完成工作。新的創(chuàng)新選項，包括可伸縮 RGB 陰極發(fā)光 (CL) 檢測器、1100°C 高真空加熱載物臺和 AutoScript 4 軟件（基于 Python 的API腳本工具）。
| 分辨率 |
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| 標準檢測器 |
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| 可選檢測器 |
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| ChemiSEM 技術（可選） |
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| 樣品臺減速（可選） |
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| 低真空模式 |
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| 樣品臺 |
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| 標準樣品支架 |
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| 樣品倉 |
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| 原位配件（可選） |
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| 軟件選項 |
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