Prisma E環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Prisma E環(huán)境掃描電鏡具有環(huán)境功能的掃描電鏡，適用于工業(yè)研究和開發(fā)。始終在線的分析能力可提高您的工作效率，并獲取完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡可進(jìn)行高分辨率成像，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。
材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價(jià)：面議
材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡。
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM 參考價(jià)：面議
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM：4k × 4k Ceta CMOS 攝像機(jī)及其大視野使得可以在整個(gè)高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)...
賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統(tǒng)是第一款可為二維和三維器件提供動(dòng)態(tài)無損實(shí)時(shí) LIT 的集成系統(tǒng)。ELITE 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、...
賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB 參考價(jià)：7000000
賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB這是一臺先進(jìn)的聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），可以利用納米級分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM 參考價(jià)：面議
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM適用于所有材料科學(xué)和半導(dǎo)體應(yīng)用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡。
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價(jià)：面議
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個(gè)樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡適用于對樣品進(jìn)行大體積連續(xù)切片以及多能量反卷積三維重構(gòu)的SEM掃描電鏡。
Helios 5 Laser PFIB System 參考價(jià)：面議
Helios 5 Laser PFIB System 可以利用納米級分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價(jià)：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個(gè)工作流程中實(shí)現(xiàn)便捷、無污染的樣本轉(zhuǎn)移。
Nexsa G2 表面分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)高效的電子透鏡、半球形分析器和檢測器使其具有的檢測能力和快速的數(shù)據(jù)采集能力。
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束 參考價(jià)：面議
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡 參考價(jià)：面議
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 EXL DualBeam 聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于半導(dǎo)體工業(yè)的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實(shí)現(xiàn)全晶圓分析。
等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 Hydra DualBeam具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
集成能譜場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™集成能譜場發(fā)射掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了技術(shù)創(chuàng)新，簡化了分析流程。通過...
賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Maps Mineralogy賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng)軟件采用Maps軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，而Maps軟件為顯微鏡自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)工作流程平臺，軟件界面直觀，數(shù)據(jù)...
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針 參考價(jià)：面議
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針ESCALAB QXi的樣品臺上的所有運(yùn)動(dòng)軸均由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)控制，儀器上安裝了高分辨率數(shù)碼攝像...
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實(shí)現(xiàn)的檢測和快速數(shù)據(jù)采集。
Helios 5 PFIB DualBeam 參考價(jià)：面議
Helios 5 PFIB DualBeam由于新 PFIB 色譜柱可實(shí)現(xiàn) 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優(yōu)異性能，因此可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、無鎵TE...
Helios 5 DualBeam 參考價(jià)：面議
Helios 5 DualBeam使用的 Thermo Scientific Elstar 電子鏡筒為任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶提供 Thermo Scientific...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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