目錄:蘇州威銳科電子有限公司>>安規(guī)綜合分析儀>>多通道安規(guī)測(cè)試儀>> 19022致茂多通道同步耐壓測(cè)試儀
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更新時(shí)間:2024-04-11 10:27:29瀏覽次數(shù):477評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,汽車,電氣 |
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高效率耐壓測(cè)試解決方案耐壓測(cè)試是電氣安規(guī)測(cè)試中最主要的項(xiàng)目之一,所有的電氣組件及產(chǎn)品,包含變壓器、電容、電源供應(yīng)器、充電器、家電產(chǎn)品等,皆需要進(jìn)行耐壓測(cè)試。
Chroma結(jié)合30年以上開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn),針對(duì)耐壓測(cè)試開(kāi)發(fā)全新架構(gòu)的19020致茂多通道同步耐壓測(cè)試儀,可同時(shí)量測(cè)所有通道的耐壓漏電流值,最高可讓您同時(shí)對(duì) 100 個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。
使用19020不需另外購(gòu)買多臺(tái)耐壓測(cè)試器,減少產(chǎn)線空間浪費(fèi),單次多通道測(cè)試,提升電氣安規(guī)測(cè)試的效率,對(duì)于產(chǎn)在線只需要做耐壓測(cè)試的產(chǎn)品,可增進(jìn)產(chǎn)線效能,減少測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)。
19020同樣具有電氣閃絡(luò) (Flashover) 偵測(cè)功能以及開(kāi)短路偵測(cè) (OSC) 強(qiáng)大功能,單機(jī)可同時(shí)10組通道同步輸出及量測(cè),最大可連接10臺(tái)單機(jī)控制 (Master & Slave) 共100 組通道,也可進(jìn)行分組輸出,除了避免相鄰測(cè)試的壓差產(chǎn)生,更可增進(jìn)產(chǎn)線效率。
產(chǎn)品應(yīng)用19020可應(yīng)用各種電氣產(chǎn)品,包含品保抽樣檢驗(yàn)測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試等耗時(shí)的測(cè)試。
致茂多通道同步耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn):
■ 十組通道在一臺(tái)設(shè)備
■ 十組同步輸出與量測(cè)
■ ACWV / DCWV / IR 三合一安規(guī)測(cè)試
■ 10 臺(tái)主/從機(jī)控制
■ 可程序電壓輸出及限制值
■ OSC 開(kāi)短路偵測(cè)
■ Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)
■ 5kVac & 6kVdc 耐壓測(cè)試
■ 1MΩ ~ 50GΩ 絕緣阻抗測(cè)試
■ 標(biāo)準(zhǔn) RS232 / Handler / GPIB 接口
■ 大型 LCD 面板
■ 面板鎖定功能
■ CE 認(rèn)證
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
同步耐壓測(cè)試
多顆待測(cè)物耐壓測(cè)試最常碰見(jiàn)的課題是輸出無(wú)法同步。在產(chǎn)線規(guī)劃或自動(dòng)化規(guī)劃時(shí),為達(dá)到設(shè)備極小化及最大空間利用,二個(gè)待測(cè)物之間的距離會(huì)很小。以輸出電壓5kVac為例,當(dāng)耐壓測(cè)試器的輸出不同步時(shí),將會(huì)造成二個(gè)待測(cè)物之間產(chǎn)生高電壓差(最大可達(dá)14kV peak-peak) 的放電,導(dǎo)致治具損壞及測(cè)試誤判。Chroma 19020將輸出電壓同步化,相鄰的二端高壓之間將不會(huì)發(fā)生高壓差而導(dǎo)致放電,不但可延長(zhǎng)您產(chǎn)線設(shè)備的壽命,也減少測(cè)試誤判的情形發(fā)生。
電氣閃絡(luò)(Flashover)偵測(cè)
19020 與Chroma其它安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電,待測(cè)物失去原有之絕緣特性,形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電,導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良,須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè)為高壓測(cè)試的檢視項(xiàng)目之一。
開(kāi)短路偵測(cè)(OSC)
OSC 功能為偵測(cè)測(cè)試過(guò)程中是否有開(kāi)路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)的情形發(fā)生。測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象,可提早得知并篩選,減少對(duì)治具設(shè)備的傷害,節(jié)省測(cè)試成本。一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx),在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間,一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(圖6),一般低于10pF,而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?,F(xiàn)象,因此可利用電容量變化之上下限值判定出短路問(wèn)題。
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19035 : 繞線組件安規(guī)掃描測(cè)試器
A190347 : GPIB & Handler 接口與溫度量測(cè)棒端子
A190351 : 8CH-16CH 掃描裝置
A190358 : 訊號(hào)顯示盒
A190359 : 16CH高壓掃描冶具
A190702 : 40kV 高壓探棒over) 驗(yàn)證治具
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