二手X射線熒光測量儀測厚儀膜厚儀回收產(chǎn)品介紹：

XRD簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進行定性。

膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度

臺式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值

高性能X射線熒光測量儀，配有*的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

二手X射線熒光測量儀測厚儀膜厚儀回收特點

高性能機型，具有強大的綜合測量能力

配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位  

典型應用領(lǐng)域

對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域