檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品用途：

 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、汽車(chē)電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測(cè)分析的重要儀器設(shè)備，測(cè)試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的重要依據(jù)或參考。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試室溫度范圍:-40℃~+150℃(風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍:-10℃~-40℃(任意可調(diào))

高溫沖擊范圍:60℃~150℃(任意可調(diào))

檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱

滿足標(biāo)準(zhǔn)

?GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

?GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

?GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

?GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

?GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

?GJB150.3-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)

?GJB150.4-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)

?GJB150.5-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

?GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

選購(gòu)注意事項(xiàng)

溫度范圍:根據(jù)測(cè)試需求選擇合適的溫度范圍，

溫度變化速率:考慮測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品要求，選擇合適的溫度變化速率。

樣品容量與尺寸:確保試驗(yàn)箱能夠容納并適應(yīng)待測(cè)試樣品的尺寸和數(shù)量

自動(dòng)化程度:根據(jù)實(shí)驗(yàn)室的自動(dòng)化水平和操作需求，選擇適合的自動(dòng)化程度。

售后服務(wù):選擇有良好售后服務(wù)和技術(shù)支持的供應(yīng)商，以確保設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。