高低溫沖擊箱 測試半導體承受瞬間沖擊力

TSD-50F-3P 皓天冷熱沖擊試驗箱的技術參數(shù)如下：

容積與尺寸：

內容積：50L。

內型尺寸：W400×H350×D350mm。

外型尺寸：W1250×H1450×D1320mm。

溫度范圍：

高溫測試區(qū)：高溫室溫度范圍為 + 60℃→+180℃。

低溫測試區(qū)：溫度范圍為 - 60℃～-10℃。

溫度沖擊范圍：（+60～+150）℃（熱沖）；低溫可至（-65～-10）℃（冷沖）。

溫度性能：

溫度穩(wěn)定性：±0.5℃。

溫度均勻度：±2.0℃。

升溫時間：升溫 + 20℃→+180℃≤25min（高溫室單獨運轉時性能）。

降溫時間：降溫 + 20℃→-60℃≤60min（低溫室單獨運轉時性能）。

制冷系統(tǒng)：

工作方式：機械壓縮二元復疊制冷方式。

制冷壓縮機：全封閉式活塞壓縮機（法國泰康）。

制冷劑：R404a/R23（臭氧耗損指數(shù)為 0）。

其他配置：

控制器：彩色觸摸屏 TFT（8226S）中英文顯示器 PLC（控制軟件）溫控模塊。

高低溫沖擊箱 測試半導體承受瞬間沖擊力

產品用途

一、電子行業(yè)

半導體器件測試

對半導體芯片進行冷熱沖擊試驗，模擬其在不同溫度環(huán)境下快速切換時的工作狀態(tài)。例如，在芯片封裝后，通過該試驗箱進行 - 60℃到 150℃的溫度沖擊，能夠檢測芯片內部連接是否穩(wěn)固，是否會因為溫度變化導致電路開路或短路，確保芯片在實際使用中能夠承受復雜的溫度環(huán)境。

電子元器件檢測

諸如電阻、電容、電感等電子元器件，在生產過程中需要進行冷熱沖擊試驗。例如，在航空航天電子設備中使用的高精度電阻，利用該試驗箱進行多次冷熱沖擊，可檢驗其阻值穩(wěn)定性。在溫度循環(huán)過程中，觀察電阻值是否出現(xiàn)超出公差范圍的變化，保證電子元器件在極-端溫度環(huán)境下的可靠性。

二、汽車行業(yè)

汽車電子元件驗證

現(xiàn)代汽車中包含大量電子元件，如發(fā)動機控制單元、車載娛樂系統(tǒng)等。這些電子元件在不同季節(jié)和行駛環(huán)境下會面臨溫度的急劇變化。使用 TSD - 50F - 3P 試驗箱，將汽車電子元件置于 - 10℃到 180℃的冷熱沖擊環(huán)境中，能夠提前發(fā)現(xiàn)潛在的質量問題，例如電子元件在低溫下啟動是否正常，高溫下是否會出現(xiàn)過熱損壞等情況，保障汽車行駛安全。

汽車零部件測試

對于汽車的一些關鍵零部件，如制動系統(tǒng)的電子控制模塊、傳感器等，冷熱沖擊試驗至關重要。在汽車行駛過程中，這些零部件可能會經歷從寒冷的戶外環(huán)境到發(fā)動機艙內高溫環(huán)境的快速轉變。通過試驗箱模擬這種溫度變化，可以評估零部件的材料性能和連接可靠性，防止因溫度變化導致的制動失效等安全隱患。

三、航空航天領域

航空電子設備評估

航空電子設備對環(huán)境適應性要求極-高。該試驗箱可用于對飛機上的通信設備、導航系統(tǒng)等進行冷熱沖擊試驗。例如，在高空飛行時，外部環(huán)境溫度極低，而設備自身運行會產生熱量，通過 - 65℃到 + 150℃的冷熱沖擊試驗，能夠確保航空電子設備在這種極-端溫度交替環(huán)境下能夠正常工作，保障飛行安全。

航天材料篩選

在航天領域，新材料的應用需要經過嚴格的環(huán)境試驗。冷熱沖擊試驗箱可用于對航天材料進行測試，如航天器的外殼材料、隔熱材料等。在模擬太空環(huán)境的溫度變化過程中（例如從發(fā)射時的高溫到太空中的低溫環(huán)境），篩選出能夠承受劇烈溫度變化且性能穩(wěn)定的材料，確保航天任務的順利進行。

四、其他行業(yè)

通信設備可靠性測試

通信基站設備、光纖收發(fā)器等通信設備，在不同地理環(huán)境和氣候條件下使用。利用該試驗箱進行冷熱沖擊試驗，可以檢驗通信設備在溫度變化時的性能。例如，在北方寒冷地區(qū)的通信基站設備，在 - 60℃的低溫沖擊后能否正常啟動和運行，以及在夏季高溫時能否穩(wěn)定工作，保障通信網絡的暢通。

醫(yī)療器械質量保障

一些高-端醫(yī)療器械，如核磁共振設備、體外診斷儀器中的電子和機械部件，需要保證在不同溫度環(huán)境下的可靠性。通過冷熱沖擊試驗，確保這些醫(yī)療器械在醫(yī)院不同科室（如常溫的病房和有制冷設備的實驗室）之間移動或使用時，不會因溫度變化而出現(xiàn)故障，保障醫(yī)療診斷和治療的準確性和安全性