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玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀
用于 300 mm 晶圓全圖繪制的 射線衍射 (XRD) 系統(tǒng)
玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀
玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度測(cè)角儀
TFXRD-300是一款用于測(cè)量大直徑晶圓薄膜的專用X射線衍射工具,可測(cè)量薄膜厚度、結(jié)晶度、化合物材料的成分比、外延片的晶格弛豫等。
TFXRD-300 概述
具有可選光學(xué)器件的高精度測(cè)角儀
該 XRD 系統(tǒng)適用于所有薄膜 XRD 應(yīng)用,并具有 XY 可移動(dòng)平臺(tái),可繪制最大 300 mm 的晶圓。
我們的系統(tǒng)可確保您的樣品保持完好無(wú)損,使您能夠毫無(wú)問(wèn)題地進(jìn)行額外的實(shí)驗(yàn)和分析。為您的所有研究和開(kāi)發(fā)需求提供最準(zhǔn)確、可靠的結(jié)果。
適用于近晶圓廠應(yīng)用的 XRD 系統(tǒng)映射工具
它可用于改進(jìn)材料分析、加強(qiáng)質(zhì)量控制和優(yōu)化制造工藝。
薄膜
精確的厚度和成分
水晶信息
應(yīng)力應(yīng)變分析
無(wú)損性能評(píng)價(jià)
多層分析
先進(jìn)材料開(kāi)發(fā)
XRR 厚度專用系統(tǒng)
確定薄膜、涂層和多層結(jié)構(gòu)的厚度、密度和界面粗糙度。
GaAs(004)、立方GaN(002)、六方GaN(0004)特性評(píng)估
精確分析晶體取向并控制材料生長(zhǎng)和加工,以實(shí)現(xiàn)電子和光電器件所需的性能。
TFXRD-300 規(guī)格
方法 | 射線衍射 (XRD)、搖擺曲線 (XRC) 和反射法 (XRR) | |
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目的 | 適用于大型晶圓(200 毫米、300 毫米)的高精度測(cè)角儀和全映射 XY 平臺(tái) | |
技術(shù) | 大支架高精度θ-2θ水平測(cè)角儀 | |
主要部件 | 適用于最大 300 mm 晶圓的全映射 XY 平臺(tái) | |
選項(xiàng) | PhotonMax 高強(qiáng)度 9 kW 旋轉(zhuǎn)對(duì)陰極 X 射線源 共焦最大通量 800 W 旋轉(zhuǎn)對(duì)陰極 X 射線源 HyPix-3000 高能量分辨率 2D HPAD 探測(cè)器 | |
控制(電腦) | 外部 PC、MS Windows 操作系統(tǒng)、SmartLab Studio II 軟件 | |
機(jī)身尺寸 | 約 1900(寬)x 2200(高)x 1900(深)毫米 | |
大量的 | 約1600公斤 | |
電源 | 3?,200 V,50/60 Hz,30 A(封裝管)或 60 A(9 kW 旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極) |