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產(chǎn)品型號分析儀T-350
品 牌佳譜科技
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
更新時間:2024-11-20 16:36:40瀏覽次數(shù):75次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,地礦,電子,綜合 |
糧食重金屬檢測儀T-350元素分析儀
T-450臺式高精度X射線熒光分析儀糧食中鎘等重金屬快速精確測量
T-450采用高精度X射線熒光(HDXRF)技術(shù),通過采用的單色和聚焦光學器件雙曲面彎晶光學晶體(DCC),將設(shè)備信噪比大幅提高,使得與傳統(tǒng)能量色散X射線熒光技術(shù)(EDXRF)相比的檢測精度大大提升。圖1顯示了HDXRF技術(shù)設(shè)備基本結(jié)構(gòu),雙曲面彎晶光學晶體(DCC)將來自射線源的多色光轉(zhuǎn)入高能單色光并有效聚焦到測量樣品上,樣品經(jīng)聚焦后的高能單色光束激發(fā)后其中的重金屬元素發(fā)射出各自的特征X射線熒光信號,高分辨率SDD半導體檢測器對信號進行收集與處理,最后由軟件FP算法計算得出樣品中所含元素含量。
表4.檢出限(單位:mg/kg) | |||
元素 | 鎘(cd) | 鉛(Pb) | 砷(As) |
檢出限 | 0.015 | 0.025 | 0.025 |
規(guī)格 | T-450 |
合規(guī)性 | GB2762-2017 |
測量方法 | 高精度X射線熒光光譜法-HDXRF |
X射線管 | 50kV,1mA |
探測器 | Fast SDD探測器 |
光學系統(tǒng) | 雙曲面彎晶晶體-DCC |
測量時間 | 30s-1200s可選 |
測量范圍 | 分析元素:Cd,Ni, Cu, Zn,As,Pb等 |
工作溫度 | -5℃~50℃ |
鎘的合規(guī)檢測
T-450基于HDXRF@技術(shù),可快速準確定量分析食物、糧食中鎘等重金屬元素,其檢測性能可以滿足中國食品安全國家標準要求-檢出限輕松應(yīng)對大米中鎘元素的法規(guī)限值0.2mg/kg。此外,T-450亦可對大米中的砷進行初步篩選定性分析。
快速掃描
T-450重量輕體積小,方便攜帶,操作簡單,無需復雜的樣品制備步驟,輕松實現(xiàn)工作現(xiàn)場快速準確掃描分析的需要,其結(jié)果如表2所示。
1、兩分鐘快速掃描;
2、快速區(qū)分超標,合格,灰色地帶樣品;
儀器特點
1、不需要化學消解,測試速度快;
2、元素檢出限低,符合GB2762-2017;
3、分析模式:定性掃描分析模式、定量分析模式。
準確性和重復性
選取一定數(shù)量大米標準樣品,對其中的Cd鎘元素進行直接分析,通過分析其測量值與標準值的相對誤差來考察儀器的測試準確性。表3數(shù)據(jù)表明HDXRF在高低鎘含量檢測均可提供精確、穩(wěn)定的結(jié)果,0.2和0.1mg/kg樣品的分析誤差通常小于10%。
糧食重金屬檢測儀T-350元素分析儀
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