系列高性能多用型XRF測厚儀返回列表頁

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產(chǎn)品型號T450plus分析儀器

品牌佳譜儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地蘇州市

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更新時間：2024-12-10 11:41:41瀏覽次數(shù)：89次

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鍍層測厚儀系列產(chǎn)品: 高性能膜厚下照式鍍層測厚儀一機多用型光譜復雜合金鍍層超聲厚度檢測 RoHS檢測 X射線儀全自動性能膜厚儀 RoHS和全元素分析物理特性分析物理特性分析儀器 > 測厚儀測厚儀 > 鍍層測厚儀分析儀器 X射線熒光光譜儀(XRF) 金屬多元素分析儀 T450系列專精性能膜厚儀 T450plus系列高性能多用型實用型多功能XRF T350plus T300V下照式鍍層測厚儀 T450plus系列高性能多

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	面議
應用領域	環(huán)保,地礦,建材/家具,電子/電池,綜合

T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應用提供優(yōu)良性能的儀器選擇。T450plus系列高性能多用型XRF測厚儀

T450plus系列高性能多用型XRF測厚儀

T450plus系列高性能多用型XRF

系列高性能多用型XRF測厚儀

涂鍍層分析

RoHS檢測

元素分析

T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應用提供優(yōu)良性能的儀器選擇。

該系列儀器采用微聚焦增強型射線管和數(shù)字多道脈沖信號處理技術，同時搭載增強FP算法軟件與變焦裝置，再加上高性能大面積探測器，無論在檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，還是RoHS和元素分析方面，均具備出色的重復精度，這也是它廣受客戶、研究所等機構(gòu)歡迎的原因。

技術參數(shù)

性能優(yōu)勢

高穩(wěn)定微聚焦集成系統(tǒng)	采用自主研發(fā)設計的高穩(wěn)定性微聚焦增強型射線管和聚焦光路系統(tǒng)，最小測量點可達0.25mm。
搭載高性能探測器	分辨率至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，具有更高的穩(wěn)定性和精度。
高精度	含量檢出限可達1ppm，厚度檢出限可達1nm。
變焦補償算法	可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍 0-25mm。
使用壽命長	采用自主研發(fā)的多維散熱系統(tǒng)，同時同樣的測試面積功率更低，整機與射線管使用壽命更長。

應用領域

快速分析	智能體驗		超高精度
穩(wěn)定性高		功能強大

系列高性能多用型XRF測厚儀

環(huán)保檢測解決方案