下照式鍍層測厚儀 物理特性分析 X熒光光譜

T300V下照式鍍層測厚儀

T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術積累與鍍層應用經驗，專門設計研發(fā)的 一 款下照式結構的鍍層測厚 儀，性價比高、適用性強。

該款采用優(yōu)良的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術，  應對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低，性能穩(wěn)定，檢出限可達0.005um，是一款頗具客戶 好評的C型腔體設計的實用型膜厚儀。

應用領域

*配置，值得更優(yōu)性能

相比圖2普通接收器，T300V采用了更為優(yōu)良的高分辨率探測器，能將不同元素的信號準確 解析，針對單層、多層或復雜合金鍍層的測量，測量精度更高，穩(wěn)定性更好。

儀器參數(shù)

選擇T300V的理由

檢測實例

T300V下照式鍍層測厚儀

電鍍層，油漆層，陶瓷層，鋁瓦，銅瓦，磷化層，紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。具有耐磨硬質金屬探針的彈簧導套式探頭，不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量，而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣植。使用一款快速、連接、可靠的，簡化超聲厚度檢測流程。測厚儀可用作精密或腐蝕測厚儀，滿足苛刻的應用要求。測厚儀具有優(yōu)良的超聲功能、高達60 Hz更新率的快速掃描速度以及集成的無線連接功能，能夠在無縫工作流程中提供值得信賴的結果。

• 連接：集成藍牙、USB、RS-232和可移動microSD卡*

• 快速：以快2倍的顯示更新率掃描最小厚度區(qū)域**

• 用途廣泛：使用我們的全系列雙晶和單晶探頭，可應對多種厚度應用

下照式鍍層測厚儀 物理特性分析 X熒光光譜