X射線熒光(HDXRF) 重金屬元素檢測 SDD探測

T-450臺式高精度X射線熒光分析儀糧食中鎘等重金屬快速精確測量

T-450采用高精度X射線熒光(HDXRF)技術，通過采用優(yōu)良的單色和聚焦光學器件雙曲面彎晶光學晶體(DCC),將設備信噪比大幅提高，使得與傳統(tǒng)能量色散X射線熒光技術(EDXRF)相比的檢測精度大大提升。圖1顯示了HDXRF技術設備基本結構，雙曲面彎晶光學晶體(DCC)將來自射線源的多色光轉入高能單色光并有效聚焦到測量樣品上，樣品經(jīng)聚焦后的高能單色光束激發(fā)后其中的重金屬元素發(fā)射出各自的特征X射線熒光信號，高分辨率SDD半導體檢測器對信號進行收集與處理，最后由軟件FP算法計算得出樣品中所含元素含量。

鎘的合規(guī)檢測

T-450基于HDXRF@技術，可快速準確定量分析食物、糧食中鎘等重金屬元素，其檢測性能可以滿足中國食品安全國家標準要求-檢出限輕松應對大米中鎘元素的法規(guī)限值0.2mg/kg。此外，T-450亦可對大米中的砷進行初步篩選定性分析。

快速掃描

T-450重量輕體積小，方便攜帶，操作簡單，無需復雜的樣品制備步驟，輕松實現(xiàn)工作現(xiàn)場快速準確掃描分析的需要，其結果如表2所示。

1、兩分鐘快速掃描；

2、快速區(qū)分超標，合格，灰色地帶樣品；

儀器特點

1、不需要化學消解，測試速度快；

2、元素檢出限低，符合GB2762-2017;

3、分析模式：定性掃描分析模式、定量分析模式。

準確性和重復性

選取一定數(shù)量大米標準樣品，對其中的Cd鎘元素進行直接分析，通過分析其測量值與標準值的相對誤差來考察儀器的測試準確性。表3數(shù)據(jù)表明HDXRF在高低鎘含量檢測均可提供精確、穩(wěn)定的結果，0.2和0.1mg/kg樣品的分析誤差通常小于10%。

X射線熒光(HDXRF) 重金屬元素檢測 SDD探測