美國(guó)DAKOTA超聲波測(cè)厚儀超厚高阻抗探頭PT-104-2700
適用于ZX / MVX / MMX系列
可選探頭:標(biāo)準(zhǔn)探頭 高阻抗探頭 超薄探頭 超厚探頭 高溫探頭 低頻探頭 水下探頭
名稱 | 探頭型號(hào) | 直徑 | 頻率 | 測(cè)量范圍 |
標(biāo)配探頭 | PT-102-2000 | 6.35mm | 5MHz | 1.0~152mm |
標(biāo)配高阻抗探頭 | PT-102-2700 | 6.35mm | 5MHz | 1.0~152mm |
CT高阻抗探頭 | PT-102-2900 | 6.35mm | 5MHz | 1.0~152mm |
高阻抗探頭 | PT-104-9700 | 12.7mm | 3.5MHz | 2.54~100mm (穿透:3.2~100mm) |
小管徑探頭 | PT-101-2000 | 4.76mm | 5MHz | 1.0~50mm |
小管徑高阻抗探頭 | PT-101-2700 | 4.76mm | 5MHz | 1.0~50mm |
低頻探頭 | PT-104-0000 | 12.7mm | 1MHz | 3.8~50.8mm(鑄鐵中) |
低頻探頭 | PT-102-1000 | 6.35mm | 2.25MHz | 1.5~100mm |
超薄探頭 | PT-102-3300 | 6.35mm | 7.5MHz | 0.63~152mm |
高阻抗探頭 | PT-102-3700 | 6.35mm | 7.5MHz | 穿透:5.0~25.4mm |
超厚探頭 | PT-104-2000 | 12.7mm | 5MHz | 1.27~508mm |
超厚高阻抗探頭 | PT-104-2700 | 12.7mm | 5MHz | 1.27~508mm |
標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭 | PT-402-2000 | 6.35mm | 5MHz | 1.0~152mm/340℃ |
標(biāo)準(zhǔn)高溫高阻抗探頭 | PT-042-2700 | 6.35mm | 5MHz | 1.0~152mm/340℃ |
超厚高溫探頭 | PT-044-2000 | 12.7mm | 5MHz | 1.27~508mm/340℃ |
超厚高溫高阻抗探頭 | PT-044-2700 | 12.7mm | 5MHz | 1.27~508mm/340℃ |
高溫探頭 | PT-212-2001 | 6.35mm | 5MHz | 1.0~152mm/480℃ |
高溫探頭 | PT-214-2001 | 12.7mm | 5MHz | 1.27~508mm/480℃ |
水下探頭 | PT-174-2006 | 12.7mm | 5MHz | 1.27~508mm |
水下探頭 | PT-174-9700 | 12.7mm | 3.5MHz | 2.54~100mm |
水下探頭 | PT-074-2906 | 12.7mm | 5MHz | 2.54~100mm |
可選配件:
配件名稱 | 型號(hào) | 說(shuō)明 |
探頭線 | N-104-0020 | Lemo 00-Microdot,1.2米長(zhǎng) |
探頭線 | N-110-0020 | Lemo 00-Microdot,3米長(zhǎng) |
探頭線 | N-120-0020 | Lemo 00-Microdot,6米長(zhǎng) |
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延遲塊 | F-000-7102 | 標(biāo)準(zhǔn)延遲塊,直徑6.35mm,長(zhǎng)9.5mm |
延遲塊 | F-000-7103 | 標(biāo)準(zhǔn)延遲塊,直徑6.35mm,長(zhǎng)12.7mm |
延遲塊 | X-132-0000 | 錐形延遲塊,前端直徑1/8英寸 |
延遲塊 | X-532-0000 | 錐形延遲塊,前端直徑3/16英寸 |
延遲塊 | X-633-0000 | 石墨延遲塊,前端直徑1/4英寸 |
延遲塊 | X-533-0000 | 石墨延遲塊,前端直徑3/16英寸 |
延遲塊 | X-152-0000 | 筆式探頭延遲塊,前端直徑1/16英寸 |
延遲塊 | X-752-0000 | 筆式探頭延遲塊,前端直徑1/8英寸 |
美國(guó)DAKOTA超聲波測(cè)厚儀超厚高阻抗探頭
頻率和直徑 |
注意:如上圖所示,頻率和晶體直徑會(huì)根據(jù)顏色進(jìn)行標(biāo)記和分類。 |
特殊標(biāo)記 | ||
標(biāo)記 | 含義 | 作用說(shuō)明 |
HR | 高分辨率 | 提高了近表面分辨率–薄材料(0.025英寸鋼)。 |
CT | 啟用涂層 | 與CMX系列涂層功能一起使用。 |
HD | 高阻抗 | 通過(guò)油漆/涂料測(cè)量提高分辨率。 |
CPZT | 綜合 | 高輸出PZT阻尼晶體–額外的增益/穿透率 |
接口選項(xiàng)(雙晶) | ||
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Potted (Integral) | Microdot | Lemo 00 |
注意:Potted和Microdot版本可以是“頂部"或“側(cè)面"輸入配置。 由于空間需求,Lemo連接器僅在?“傳感器配置中可用。 |
直徑大小選項(xiàng)(雙晶) | ||
3/16" (4.76mm) | 1/4" (6.35mm) | 1/2" (12.7mm) |
注意:尺寸可根據(jù)要求提供。舊式不銹鋼環(huán)組件不延伸至傳感器表面齊平,也可根據(jù)要求定制。 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭 高阻抗探頭 超薄探頭 超厚探頭 高溫探頭 低頻探頭 水下探頭
儀器保護(hù)套和手提箱
配件名稱 | 型號(hào) | 說(shuō)明 |
儀器保護(hù)套 | F-112-0005 | 適用于PX系列,材質(zhì):尼龍 |
儀器保護(hù)套 | F-149-0001 | 適用于PVX系列,材質(zhì):尼龍 |
儀器保護(hù)套 | A-302-6002 | 適用于PZX系列,材質(zhì):像膠 |
儀器保護(hù)套 | A-149-6002 | 適用于PVX系列,材質(zhì):像膠 |
塑膠手提箱 | A-100-6002 | PX系列 |
塑膠手提箱 | A-302-4001 | PZX系列 |
塑膠手提箱 | A-100-6003 | PVX系列 |
超聲波測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量金屬材質(zhì)、管道、壓力容器、板材(鋼板、鋁板)、塑料、鐵管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度的一種現(xiàn)代化儀器,除了測(cè)量以上材料的厚度外也可以用來(lái)測(cè)量工件表面油漆層等帶涂層的材料。
超聲波測(cè)厚儀的測(cè)量原理
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
超聲波測(cè)厚儀的測(cè)量方法
1.單點(diǎn)測(cè)量法在被測(cè)體上任一點(diǎn),利用探頭進(jìn)行測(cè)量,顯示值即為厚度值。
2.兩點(diǎn)測(cè)量法在被測(cè)體的同一點(diǎn)用探頭進(jìn)行兩次測(cè)量,在第二次測(cè)量中,探頭的分割面成 90°,取兩次測(cè)量中的較小值為厚度值。
3.多點(diǎn)測(cè)量法當(dāng)測(cè)量值不穩(wěn)定時(shí),以一個(gè)測(cè)定點(diǎn)為中心,在直徑約為 30mm 的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,取小值為厚度值。
4.連續(xù)測(cè)量法用單點(diǎn)測(cè)量法,沿線路連續(xù)測(cè)量,其間隔不小于 5mm,取其中小值為厚度值。
影響超聲波測(cè)厚儀示值的因素:
(1)工件表面粗糙度過(guò)大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無(wú)法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理,降低粗糙度,同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過(guò)耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測(cè)厚時(shí),因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸,聲強(qiáng)透射率低(耦合不好)??蛇x用小管徑探頭(6mm ),能較精確的測(cè)量管道等曲面材料。
(3)檢測(cè)面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無(wú)法接受到底波信號(hào)。
(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,超聲波在其中穿過(guò)時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示??蛇x用頻率較低的粗晶探頭(2.5MHz)。
(5)探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使其表面粗糙度增加,導(dǎo)致靈敏度下降,從而造成顯示不正確??蛇x用500#砂紙打磨,使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定,則考慮更換探頭。
(6)被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無(wú)規(guī)則變化,在情況下甚至無(wú)讀數(shù)。
(7)被測(cè)物體(如管道)內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
(8)當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷(如夾雜、夾層等)時(shí),顯示值約為公稱厚度的70%,此時(shí)可用超聲波探傷儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
(9)溫度的影響。一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低,有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,熱態(tài)材料每增加100°C,聲速下降1%。對(duì)于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。應(yīng)選用高溫探頭(300-600°C),切勿使用普通探頭。
(10)層疊材料、復(fù)合(非均質(zhì))材料。要測(cè)量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的,因超聲波無(wú)法穿透未經(jīng)耦合的空間,而且不能在復(fù)合(非均質(zhì))材料中勻速傳播。對(duì)于由多層材料包扎制成的設(shè)備(像尿素高壓設(shè)備),測(cè)厚時(shí)要特別注意,測(cè)厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。
(12)耦合劑的影響。耦合劑是用來(lái)排除探頭和被測(cè)物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng),將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍,無(wú)法測(cè)量。因根據(jù)使用情況選擇合適的種類,當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí),可以使用低粘度的耦合劑;當(dāng)使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時(shí),應(yīng)使用粘度高的耦合劑。高溫工件應(yīng)選用高溫耦合劑。其次,耦合劑應(yīng)適量使用,涂抹均勻,一般應(yīng)將耦合劑涂在被測(cè)材料的表面,但當(dāng)測(cè)量溫度較高時(shí),耦合劑應(yīng)涂在探頭上。
(13)聲速選擇錯(cuò)誤。測(cè)量工件前,根據(jù)材料種類預(yù)置其聲速或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測(cè)出聲速。當(dāng)用一種材料校正儀器后(常用試塊為鋼)又去測(cè)量另一種材料時(shí),將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果。要求在測(cè)量前一定要正確識(shí)別材料,選擇合適聲速。
(14)應(yīng)力的影響。在役設(shè)備、管道大部分有應(yīng)力存在,固體材料的應(yīng)力狀況對(duì)聲速有一定的影響,當(dāng)應(yīng)力方向與傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓應(yīng)力,則應(yīng)力作用使工件彈性增加,聲速加快;反之,若應(yīng)力為拉應(yīng)力,則聲速減慢。當(dāng)應(yīng)力與波的傳播方向不一至?xí)r,波動(dòng)過(guò)程中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)軌跡受應(yīng)力干擾,波的傳播方向產(chǎn)生偏離。根據(jù)資料表明,一般應(yīng)力增加,聲速緩慢增加。
(15)金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層,雖與基體材料結(jié)合緊密,無(wú)名顯界面,但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,從而造成誤差,且隨覆蓋物厚度不同,誤差大小也不同。