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BX-G3458高性能太陽膜測試儀PX 3614
BX-G3457高性能太陽膜測試儀PX 3614
BX-G3456高性能太陽膜測試儀PX 3614
BX-G3455多功能隔熱膜測試儀PX 3614
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測試儀PX 3614
BX-G3453高性能太陽膜測試儀PX 3614
BX-G3450高性能太陽膜測試儀PX 3614
BX-G3449高性能太陽膜測試儀PX 3614
BX-G3448高性能太陽膜測試儀PX 3614
BXS11-HJ30焊接檢驗(yàn)尺PX 3614
MIR200近紅外金相顯微鏡PX 0
RM 3000英國Jandel四探針探頭PX 5724
LPA38-3-V40E2-S23-S-V500PLogosol LPA系列嵌入式晶圓預(yù)對準(zhǔn)器PX 2312
Diamond H3 wafer美國Logosol晶圓處理平臺PX 2312
YP-150I備庫銷售-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3113
YP-150I現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3113
YP-150I備庫銷售-現(xiàn)貨日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視 檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 3113
FY-18LFUNATECH現(xiàn)貨刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 3113
FY-18NFUNATECH 現(xiàn)貨 刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 3113
FY-18NFUNATECH現(xiàn)貨刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨 FUNATECH 液晶表面檢查燈PX 3113
FY-18NFUNATECH現(xiàn)貨液晶表面檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH液晶表面檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH表面劃痕灰塵檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH多用途LED目視照明燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH半導(dǎo)體硅玻璃晶片檢查燈PX 3113
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍汽車玻璃劃痕檢查燈PX 3113
FY-18L備庫銷售-現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍表面檢查燈PX 3113
FY-18備庫銷售-現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍表面檢查燈PX 3113
YP-150I備庫銷售-現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3113
YP-250I備庫銷售-現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3113
UltraFilm - 薄膜測量系統(tǒng)PX 7097
UltraFilm薄膜測量系統(tǒng)PX 7097
高精度型StrainMatic M4薄膜應(yīng)力測試儀PX 7097
YP-250I日本YAMADA山田光學(xué)半導(dǎo)體高亮度鹵素檢查燈PX 3113
YP-150I日本YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素半導(dǎo)體檢查燈PX 3113
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400B多功能采集器PX 3745
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
薄膜應(yīng)力測試儀/日本TOHO
薄膜應(yīng)力測試儀
晶圓膜厚測量設(shè)備
膜厚測量儀
晶圓幾何尺寸量測設(shè)備
國產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)
光學(xué)膜厚儀
晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng)
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開裂測試儀
福樂FLUORO缺口和定向器
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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