掃描電鏡能譜檢測標(biāo)樣X-Checker

X-Checker檢測標(biāo)樣是*個并且保有全系列標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，可以應(yīng)用于監(jiān)測SEM/EDS系統(tǒng)性能。

若想在較短時間內(nèi)檢測手頭儀器的的性能，請選擇X-Checker。

錳的強(qiáng)峰的半峰寬分辨率測量

鋁和銅的光譜校準(zhǔn)

碳用于光譜低值校準(zhǔn)窗口探測器

高、低放大倍率的兩種鎳柵格（用于校準(zhǔn)圖像處理軟件和放大倍率）

兩種柵格用于校準(zhǔn)圖像處理軟件和放大倍率，檢測探測器窗口是否有真空油的污染

氮化硼檢測光譜低能量端的性能

氟源（PTFE）檢測光譜低能量端的分辨率

鈹（Be）柵格檢測高效探測器低能量端的靈敏度

規(guī)格：

測量誤差：±5％。

樣品臺基底：鋁。

尺寸：

周長：1"或25.4 cm；高：7.5 mm）

鎳載網(wǎng)孔徑規(guī)格：40 μm x 40 μm、18 μm x 18 μm

掃描電鏡能譜檢測標(biāo)樣產(chǎn)品信息：

   海德創(chuàng)業(yè)（北京）生物科技有限公司是美國大的電鏡耗材、電鏡試劑及電鏡儀器供應(yīng)商 Electron Microscopy Sciences 公司(簡稱 EMS ）在中國簽訂協(xié)議的總代理，我們致力于將優(yōu)秀的和符合中國客戶需求的產(chǎn)品引入中國！?會為您提供更多優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，*，放心使用。
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