供應(yīng)
-
A-123-帶空氣軸承的PIglideAT3線性平臺(tái) 詳細(xì)摘要:A-123 帶空氣軸承的PIglideAT3線性平臺(tái)
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
高性能納米級(jí)定位平臺(tái)
掃描應(yīng)用的完美選擇或精密定位
無(wú)塵室兼容
運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的尺寸210 毫米×210 毫米
行程50 毫米至750 毫米
分辨率達(dá)1納米 -
P-561 ? P-562 ? P-563-PIMars納米定位平臺(tái) 詳細(xì)摘要:P-561 ? P-562 ? P-563 PIMars納米定位平臺(tái)
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
用于多達(dá)3軸的高精度納米定位系統(tǒng)
并聯(lián)運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)更快的響應(yīng)時(shí)間和高的多軸精度
行程達(dá)300 × 300 × 300微米
電容式傳感器帶來(lái)高線性度
零間隙,高精度柔性鉸鏈導(dǎo)向 -
P-752-高精度納米定位平臺(tái) 詳細(xì)摘要:P-752 高精度納米定位平臺(tái)
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
具有極其準(zhǔn)確的導(dǎo)向的高動(dòng)態(tài)穩(wěn)定型壓電陶瓷掃描器
分辨率0.1納米
快速響應(yīng)
行程達(dá)35微米
電容式傳感器帶來(lái)高線性度
無(wú)摩擦柔性鉸鏈導(dǎo)向可實(shí)現(xiàn)*的運(yùn)動(dòng)精度
PICMA壓電陶瓷促動(dòng)器帶來(lái)超長(zhǎng)使 -
P-841-預(yù)載壓電陶瓷促動(dòng)器 詳細(xì)摘要:用于高負(fù)載和高力的緊湊型促動(dòng)器,帶位置傳感器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
PICMA壓電陶瓷促動(dòng)器帶來(lái)超長(zhǎng)使用壽命
行程達(dá)90微米
緊湊型外殼
推力達(dá)1000牛
拉力達(dá)50牛
微秒級(jí)響應(yīng)
亞納米級(jí)分辨率
帶球*的版本,真空版本 -
P-007 – P-056-PICA堆疊型壓電陶瓷促動(dòng)器 詳細(xì)摘要:行程范圍達(dá)300 毫米
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
高負(fù)載能力
產(chǎn)生的力高達(dá)80千牛
超高可靠性:>109 次循環(huán) -
P-882-多層壓電陶瓷促動(dòng)器 詳細(xì)摘要:超長(zhǎng)使用壽命
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
高剛性
微秒級(jí)響應(yīng)
亞納米級(jí)分辨率
超高真空兼容至10-9 百帕 -
S-331-超快壓電陶瓷偏擺鏡 / 快擺鏡 詳細(xì)摘要:§ 偏擺角度高達(dá)5毫弧度,光學(xué)偏轉(zhuǎn)角度 高達(dá)10毫弧度(0.57度)
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-20 在線留言
§ 并聯(lián)運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)兩條偏擺軸具有同 樣的高性能特點(diǎn)
§ 高諧振頻率實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)運(yùn)動(dòng),快速步進(jìn)和 穩(wěn)定
§ 位置傳感器實(shí)現(xiàn)高線性度
&# -
GEM-C5970-70-LB-C-HJ高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GEM-C5970-70-LB-C-HJ高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
GEM-C7080P4-83-RB-SMP高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GEM-C7080P4-83-RB-SMP高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
GEM-C7080-LB-C-HJ高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GEM-C7080-LB-C-HJ高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
GMX50P4-83-RB-SMN高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GMX50P4-83-RB-SMN高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
GWL-120-15-70-LB-AWT高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GWL-120-15-70-LB-AWT純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
ORTEC核電子學(xué)插件、儀器 詳細(xì)摘要:ORTEC核電子學(xué)插件
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
儀器主要包括:
前置放大器、放大器、時(shí)間校準(zhǔn)、單道脈沖分析器、計(jì)數(shù)/計(jì)時(shí)器和率表、延遲發(fā)生器、邏輯模塊和線性門、快速時(shí)間鑒別器、
CAMAC ADC、高壓偏置/NIM電源及機(jī)箱、NIM MCA/MCB、非NIM MCA/MCB、MCS/多倍數(shù) -
GMX40-76-LB-C-HJ高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GMX40-76-LB-C-HJ高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
Micro-trans-SPEC便攜式高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:便攜式高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
新世紀(jì)以來(lái),ORTEC 緊跟時(shí)代發(fā)展與市場(chǎng)需求,不斷攻堅(jiān)克難,成功推出了基于斯特林壓縮機(jī)
制冷技術(shù)的成系列高純鍺譜儀,為滿足各種常規(guī)與特殊應(yīng)用提供了Z廣泛和實(shí)用的選擇。 -
DECTIEVE-DX-100T便攜式高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:便攜式高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言
新世紀(jì)以來(lái),ORTEC 緊跟時(shí)代發(fā)展與市場(chǎng)需求,不斷攻堅(jiān)克難,成功推出了基于斯特林壓縮機(jī) -
ORTEC帶電粒子探測(cè)器 詳細(xì)摘要:ORTEC帶電粒子硅探測(cè)器主要有金硅面壘和離子注入兩種工藝,其耗盡層厚度從10微米到幾個(gè)毫米厚不等。而根據(jù)其幾何形狀與是否全耗盡又有諸多類型。選擇合適的帶電粒子探測(cè)器,除應(yīng)用本身外,在探測(cè)器上應(yīng)從耗盡層厚度、結(jié)電容、漏電流、電子噪聲、能量分辨率等
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言 -
Detective X超高分辨率HPGe放射性同位素識(shí)別裝置 詳細(xì)摘要:Detective-100T與Trans-SPEC-100T是目前用途Z為廣泛,適應(yīng)性的一體化電致冷高純鍺伽瑪核素甄別器&譜儀。單獨(dú)使用時(shí),它可以作為快速核素甄別器或者便攜式譜儀。它可以組合成以下系統(tǒng):
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言 -
低本底NaI(Tl)井型探測(cè)器 詳細(xì)摘要:低本底NaI(Tl)井型探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言 -
井型NaI探測(cè)器 詳細(xì)摘要:低本底NaI(Tl)井型探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-07-10 在線留言