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1L-馬林杯 詳細(xì)摘要:馬林杯
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-18 在線留言
樣品形狀的選擇對(duì)環(huán)保系統(tǒng)而言,樣品的活度一般都較低。為了能夠滿足統(tǒng)計(jì)誤差的要求,測(cè)量時(shí)間都比較大。如何在不損失其他測(cè)量參數(shù)的同時(shí),有效的降低樣品的測(cè)量時(shí)間,是一個(gè)非常有意義的問題。 -
GT-40-油田錄井放射性伽馬能譜儀 詳細(xì)摘要:油田錄井放射性伽馬能譜儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-15 在線留言
GT-40和GT-40-S除了探測(cè)器的類型外,其他都是相同的。GT-40具有3 × 3"的NaI(Tl)探測(cè)器,靈敏度高,分辨率好,可在大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用中使用。GT-40-S具有2x2“帶鉛屏蔽的BGO探測(cè) -
GT-40-油田巖屑錄井放射性伽馬能譜儀 詳細(xì)摘要:油田巖屑錄井放射性伽馬能譜儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-15 在線留言
GT-40和GT-40-S除了探測(cè)器的類型外,其他都是相同的。GT-40具有3 × 3"的NaI(Tl)探測(cè)器,靈敏度高,分辨率好,可在大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用中使用。GT-40-S具有2x2“帶鉛 -
FireEye-8-高頻芯片超聲波掃描顯微鏡 詳細(xì)摘要:高頻芯片超聲波掃描顯微鏡
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-15 在線留言
EYE-8 超聲掃描顯微鏡主要利用高頻的超聲波(5MHz 以上)檢測(cè)材料、晶圓或半導(dǎo)體封裝 器件內(nèi)部的缺陷位置、大小和分布狀態(tài)等,對(duì)粘接層面非常敏感,能夠檢測(cè)出氣孔、裂紋、夾 雜和分層等缺陷,以波形、圖形為顯示方式的一種無 -
GT-40-石油巖屑錄井放射性伽馬能譜儀 詳細(xì)摘要:石油巖屑錄井放射性伽馬能譜儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-15 在線留言
GT-40和GT-40-S除了探測(cè)器的類型外,其他都是相同的。GT-40具有3 × 3"的NaI(Tl)探測(cè)器,靈敏度高,分辨率好,可在大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用中使用。GT-40-S具有2x2“帶鉛屏蔽的BGO -
GT-40-石油錄井放射性伽馬能譜儀 詳細(xì)摘要:石油錄井放射性伽馬能譜儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-15 在線留言
GT-40和GT-40-S除了探測(cè)器的類型外,其他都是相同的。GT-40具有3 × 3"的NaI(Tl)探測(cè)器,靈敏度高,分辨率好,可在大多數(shù)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用中使用。GT-40-S具有2x2“帶鉛屏蔽的BGO探測(cè)器,應(yīng)用 -
GEM-S8530P4-108-RB高純鍺探測(cè)器 詳細(xì)摘要:GEM-S8530P4-108-RB高純鍺探測(cè)器
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2024-01-02 在線留言
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具 -
粒子探測(cè)器 詳細(xì)摘要:ORTEC帶電粒子硅探測(cè)器主要有金硅面壘和離子注入兩種工藝,其耗盡層厚度從10微米到幾個(gè)毫米厚不等。而根據(jù)其幾何形狀與是否全耗盡又有諸多類型。選擇合適的帶電粒子探測(cè)器,除應(yīng)用本身外,在探測(cè)器上應(yīng)從耗盡層厚度、結(jié)電容、漏電流、電子噪聲、能量分辨率等
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2023-12-29 在線留言 -
PLS2-SYSTEM-PLS2-SYSTEM正電子湮沒壽命譜儀ORTEC 詳細(xì)摘要:正電子湮沒壽命譜儀,又叫高分子材料分析儀
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2023-12-29 在線留言 -
ORTEC核插件4001A/4002D 詳細(xì)摘要:ORTEC核電子學(xué)插件
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2023-12-21 在線留言
儀器主要包括:
前置放大器、放大器、時(shí)間校準(zhǔn)、單道脈沖分析器、計(jì)數(shù)/計(jì)時(shí)器和率表、延遲發(fā)生器、邏輯模塊和線性門、快速時(shí)間鑒別器、
CAMAC ADC、高壓偏置/NIM電源及機(jī)箱、NIM MCA/MCB、非NIM MCA/MCB、MCS/多倍數(shù) -
材料分析儀 詳細(xì)摘要:1930年Dirac從理論上預(yù)言了正電子的存在和1932年Anderson在觀察宇宙線中發(fā)現(xiàn)了正電子之后,揭開了研究物質(zhì)和反物質(zhì)相互作用的序幕。1951年Deutsch發(fā)現(xiàn)了正電子和電子構(gòu)成的束縛態(tài)—正電子素的存在更加深了對(duì)正電子物理的研究工作,同時(shí),也開展了許多應(yīng)用研究
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2023-12-21 在線留言