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詳細(xì)摘要：鍺片、鍺襯底
該晶體使用直拉法在晶體（100）方向延伸。圓柱形表面（表面光潔度小于2.5 μm RMS）。經(jīng)紅外成像法檢測(cè)晶體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定可靠。晶體幾個(gè)結(jié)構(gòu)由直徑和長(zhǎng)度決定。

詳細(xì)摘要：鍺片
該晶體使用直拉法在晶體（100）方向延伸。圓柱形表面（表面光潔度小于2.5 μm RMS）。經(jīng)紅外成像法檢測(cè)晶體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定可靠。晶體幾個(gè)結(jié)構(gòu)由直徑和長(zhǎng)度決定。

詳細(xì)摘要：鍺片、鍺襯底
該晶體使用直拉法在晶體（100）方向延伸。圓柱形表面（表面光潔度小于2.5 μm RMS）。經(jīng)紅外成像法檢測(cè)晶體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定可靠。晶體幾個(gè)結(jié)構(gòu)由直徑和長(zhǎng)度決定。

詳細(xì)摘要：蓋格計(jì)數(shù)管美國(guó)LND Inc設(shè)計(jì)制造充氣核輻射探測(cè)器（氣體電離探測(cè)器）
蓋革-米勒計(jì)數(shù)管
能量補(bǔ)償蓋革-穆勒管
端窗和側(cè)窗X射線比例計(jì)數(shù)器
位置敏感探測(cè)器
BF3和3HE中子比例探測(cè)器
電離腔
裂變計(jì)數(shù)器
中子束監(jiān)測(cè)器

詳細(xì)摘要：蓋格計(jì)數(shù)器
美國(guó)LND Inc設(shè)計(jì)制造充氣核輻射探測(cè)器（氣體電離探測(cè)器）
蓋革-米勒計(jì)數(shù)管
能量補(bǔ)償蓋革-穆勒管
端窗和側(cè)窗X射線比例計(jì)數(shù)器
位置敏感探測(cè)器
BF3和3HE中子比例探測(cè)器
電離腔
裂變計(jì)數(shù)器
中子束監(jiān)測(cè)器

詳細(xì)摘要：蓋革計(jì)數(shù)器
美國(guó)LND Inc設(shè)計(jì)制造充氣核輻射探測(cè)器（氣體電離探測(cè)器）
蓋革-米勒計(jì)數(shù)管
能量補(bǔ)償蓋革-穆勒管
端窗和側(cè)窗X射線比例計(jì)數(shù)器
位置敏感探測(cè)器
BF3和3HE中子比例探測(cè)器
電離腔
裂變計(jì)數(shù)器
中子束監(jiān)測(cè)器

詳細(xì)摘要：蓋革計(jì)數(shù)管
美國(guó)LND Inc設(shè)計(jì)制造充氣核輻射探測(cè)器（氣體電離探測(cè)器）
蓋革-米勒計(jì)數(shù)管
能量補(bǔ)償蓋革-穆勒管
端窗和側(cè)窗X射線比例計(jì)數(shù)器
位置敏感探測(cè)器
BF3和3HE中子比例探測(cè)器
電離腔
裂變計(jì)數(shù)器
中子束監(jiān)測(cè)器

詳細(xì)摘要：地下巖體除氡機(jī)
科學(xué)研究比較成熟的降低氡濃度方法從原理上主要分為稀釋和吸附兩大類，而吸附方法非常適合局部區(qū)域降氡。且國(guó)內(nèi)外大量實(shí)驗(yàn)也表明，隨著系統(tǒng)壓力的升高、溫度和相對(duì)濕度的降低，活性炭對(duì)放射性氣體的吸附系數(shù)均呈增長(zhǎng)趨勢(shì)，泰坤工業(yè)在數(shù)年

詳細(xì)摘要：聚丙烯放射性氣溶膠過濾膜采樣膜
一、特性：
1、對(duì)空氣中各種性質(zhì)的氣溶膠、包含放射性氣溶膠具有*的過濾、吸附采樣能力；
2、均勻的靜電纖維可以有效的捕捉空氣的的亞微粒子，實(shí)現(xiàn)PM2.5高效過濾和吸附；
3、開放式結(jié)構(gòu)具有

詳細(xì)摘要：一體化低本底快速伽馬能譜儀
實(shí)驗(yàn)室伽瑪射線能譜分析儀是專門設(shè)計(jì)用于監(jiān)測(cè)和檢測(cè)各種金屬材料、建筑材料、金屬制品、地質(zhì)樣品、環(huán)境采樣樣品及食品中可能存在的放射性輻射。例如：鋼鐵廠內(nèi)鋼、塵、渣的快速輻射分析。測(cè)定建筑材料和巖石中鉀、鈾和釷的濃

詳細(xì)摘要：德國(guó)PI位移平臺(tái)
將亞納米分辨率和導(dǎo)向精度與小串?dāng)_相結(jié)合。這使其特別適合于計(jì)量學(xué)，超分辨率顯微鏡，干涉測(cè)量或半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)檢查系統(tǒng)中的應(yīng)用。壓電撓性位移臺(tái)可用于毫秒級(jí)的定位和動(dòng)態(tài)掃描，在高達(dá)6個(gè)自由度的情況下可達(dá)幾百赫茲。

詳細(xì)摘要：PI壓電偏擺鏡壓電控制器直線電機(jī)電容傳感器
速度高達(dá)0.5米/秒
編碼器分辨率為1納米
帶PIOne線性編碼器實(shí)現(xiàn)高精度：小位移為0.5納米
高導(dǎo)向精度
設(shè)計(jì)緊湊，寬度為160毫米

詳細(xì)摘要：PI六軸并聯(lián)納米微米定位臺(tái)，壓電陶瓷促動(dòng)器
速度高達(dá)0.5米/秒
編碼器分辨率為1納米
帶PIOne線性編碼器實(shí)現(xiàn)高精度：小位移為0.5納米
高導(dǎo)向精度
設(shè)計(jì)緊湊，寬度為160毫米

詳細(xì)摘要：壓電納米位移臺(tái)
并聯(lián)運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)更快的響應(yīng)時(shí)間和高的多軸精度
行程達(dá)300 × 300 × 300微米
電容式傳感器帶來(lái)高線性度
零間隙，高精度柔性鉸鏈導(dǎo)向系統(tǒng)
優(yōu)異的掃描平面度
高動(dòng)態(tài)XYZ版本 所在地：北京北京市      更新時(shí)間：2024-09-27 在線留言

詳細(xì)摘要：D-E20 ? D-E21 單級(jí)電容位移傳感器（柱狀）
大范圍量程，（亞）納米測(cè)量分辨率

非接觸式測(cè)量，可用于多種應(yīng)用，如測(cè)量位移、振動(dòng)、平面度/直線度、圓度/徑向跳動(dòng)誤差、水層厚度等。
位置測(cè)量，高線性度
可達(dá)亞納米級(jí)測(cè)量分辨率 所在地：北京北京市      更新時(shí)間：2024-09-27 在線留言

詳細(xì)摘要：N-216 NEXLINE線性促動(dòng)器
長(zhǎng)行程納米定位，具有高力，PiezoWalk原理

力量生成達(dá)600牛
保持力達(dá)800牛
行程20毫米
帶分辨率的集成式直接測(cè)量線性編碼器5納米

詳細(xì)摘要：V-551 PIMag精密線性平臺(tái)
磁力直接驅(qū)動(dòng)器帶來(lái)高速度和高精度

行程達(dá)230 毫米
速度高達(dá)0.5米/秒
編碼器分辨率為1納米
帶PIOne線性編碼器實(shí)現(xiàn)高精度：小位移為0.5納米
高導(dǎo)向精度
設(shè)計(jì)緊湊，寬度為160毫米

詳細(xì)摘要：Q-545 Q?Motion®精密線性平臺(tái)
壓電電機(jī)可實(shí)現(xiàn)高力和小巧設(shè)計(jì)
寬度僅為45毫米
推/拉力為7牛
帶位置分辨率的增量傳感器
不帶接裝板的XY組合可供選擇
真空兼容至10-6百帕

詳細(xì)摘要：?jiǎn)尉а苌鋬x探測(cè)器
PILATUS3 R 混合光子計(jì)數(shù)（HPC）探測(cè)器經(jīng)過重新設(shè)計(jì)，該系列探測(cè)器基于同步輻射技術(shù)，并融合了兩種關(guān)鍵技術(shù)：?jiǎn)喂庾佑?jì)數(shù)和混合像素技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了更好的實(shí)驗(yàn)室體驗(yàn)。 PILATUS3 R 系列進(jìn)一步完善了我公司實(shí)驗(yàn)室用系列探測(cè)器的*優(yōu)勢(shì)。

詳細(xì)摘要：應(yīng)力測(cè)試儀分析儀探測(cè)器
MYTHEN系列微帶探測(cè)器充分利用了混合光子計(jì)數(shù)（HPC）技術(shù)的所有優(yōu)勢(shì)：如無(wú)噪音、高速采集、耐輻射性能*等，并以 此帶來(lái)了實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用體驗(yàn)。MYTHEN2 R系列探測(cè)器有兩種不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K（含1280條微帶）和 MYTHEN2 R 1D（