探針式表面輪廓儀

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀”）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺(tái)階儀適用面極廣，為用戶提供準(zhǔn)確性高，重復(fù)性佳的測量結(jié)果。

在教育、科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制，Dektak廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測量。近幾年，Dektak系統(tǒng)已經(jīng)成為發(fā)展的太陽能電池市場越的測試工具，也被許多主要的光伏太陽能電池制造商所認(rèn)可。

DektakXT

桌面型探針式表面輪廓儀

布魯克DektakXT®臺(tái)階儀設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá)4埃。這項(xiàng)測量性能的提高，達(dá)到了過去四十年Dektak®體系技術(shù)創(chuàng)新的，更加穩(wěn)固了其行業(yè)中的地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，在研究工作中的廣泛使用是的DektakXT地功能更強(qiáng)大，操作更簡便易行，檢測過程和數(shù)據(jù)采集也更加完善。技術(shù)的突破也實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

探針式輪廓儀的黃金標(biāo)準(zhǔn)

DektakXT®探針式輪廓儀革命性的突破設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了垂直高度重復(fù)性高達(dá)4埃，數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破，使得DektakXT實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

技術(shù)創(chuàng)新四十余載，不斷突破用攀高峰

Dektak品牌是*基于微處理器控制的輪廓儀，*實(shí)現(xiàn)微米測量的臺(tái)階儀，*可以達(dá)到3D測量的儀器，*個(gè)人電腦控制的輪廓儀，*全自動(dòng)300mm臺(tái)階儀?，F(xiàn)在，全新的DektakXT延續(xù)了這種開創(chuàng)性的風(fēng)格，成為一臺(tái)采用具有具有單拱龍門式設(shè)計(jì)，配備HD攝像機(jī)，并且利用64位同步數(shù)據(jù)處理模式完成測量和操作效率的臺(tái)階儀。

提高測量和數(shù)據(jù)分析速度

*采用*高速的直接驅(qū)動(dòng)掃描樣品臺(tái)，DektakXT在不犧牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大縮短了每次掃描的間隔時(shí)間，將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用布魯克具有64位數(shù)據(jù)采集同步分析的Vision64，可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快數(shù)據(jù)濾波和多次掃描數(shù)據(jù)庫分析的速度。

提高操作的可重復(fù)性

使用單拱龍門結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)更堅(jiān)硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對(duì)測量信號(hào)的影響。DektakXT會(huì)把系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降到，能夠更穩(wěn)定可靠的掃描高度小于10nm的臺(tái)階，獲得其形貌特征。

完善的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)

與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是布魯克Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上簡潔的用戶界面，具備智能板塊，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡便的實(shí)現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。

簡便易行的實(shí)驗(yàn)操作系統(tǒng)

DektakXT新穎的探針的部件自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)裝置，可以盡量避免用戶在裝針的過程中出現(xiàn)針尖損傷等意外。為盡可能滿足所有應(yīng)用的需求，布魯克提供各種尺寸的標(biāo)準(zhǔn)探針和特制探針。

高效率的保證

DektakXT的測量重復(fù)性為工程師們提供準(zhǔn)確的薄膜厚度和應(yīng)力測量，使其可以調(diào)節(jié)刻蝕和鍍膜工藝來提高產(chǎn)品的優(yōu)良率。

DektakXT儀器特性

的性能和優(yōu)于4埃（<4 Å）的測量重復(fù)性

· 單拱龍門式設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

· 先進(jìn)的”智能化電子器件”實(shí)現(xiàn)了低噪聲的新*

高效率且易于使用

· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程

· *的傳感器設(shè)計(jì)使得在單一平臺(tái)上即可實(shí)現(xiàn)超微力和較大的力測量

· 自對(duì)準(zhǔn)的探針設(shè)計(jì)使用戶可以輕而易舉地更換探針