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探針式表面輪廓儀在嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面...
Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...
Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...
布魯克探針式表面輪廓儀(又稱“臺階儀")歷今四十載,積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試,Dektak臺...
布魯克探針式表面輪廓儀(又稱“臺階儀")歷今四十載,積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試,Dektak臺...
Bruker臺階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀(臺階儀);實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性。實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,在微電子、半導(dǎo)體、...
布魯克DektakXT (探針式表面輪廓儀)設(shè)計創(chuàng)新,Bruker探針式表面輪廓儀(臺階儀);實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性5Å。產(chǎn)品源自...
臺階高度重復(fù)性優(yōu)于5埃(5 Å)?單拱龍門式設(shè)計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性?良好的"智能化電子器件"實現(xiàn)了低噪聲的新標(biāo)桿操作簡便,高效易用?直觀化的Vi...
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