首頁>>北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>產(chǎn)品展示>>材料高溫電學(xué)測(cè)試儀
GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀 參考價(jià)：5000
GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀（溫度：1000℃，頻率：10HZ-20MHZ）提供頻率（10 Hz 至20MHz），可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其...
TSC/TSDC-200型熱刺激電流測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
熱刺激電流（Thermally Stimulated Current，TSD）技術(shù)是通過將樣品線性升溫，使材料中不同陷阱能級(jí)內(nèi)的空間電荷脫阱，或使取向的偶極分子...
GLSR-1000型玻璃熔體電阻率試驗(yàn)儀 參考價(jià)：1500
GLSR-1000型玻璃熔體電阻率試驗(yàn)儀是一款專用于玻璃熔體電阻測(cè)試的設(shè)備，采用自動(dòng)平衡技術(shù)，具有交流電壓輸出功能，頻率可調(diào)，可測(cè)試不同電流及頻率下的電阻率數(shù)據(jù)...
GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀 參考價(jià)：9999
產(chǎn)品簡(jiǎn)介GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界...
TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴(kuò)展）的測(cè)試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲...
提供CNAS計(jì)量認(rèn)證報(bào)告高溫電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：2500000
HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4...
材料高低溫電阻率測(cè)試儀（-160℃-600℃） 參考價(jià)：9999
HTIM-3高低溫材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電...
高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)(-190℃-1000℃） 參考價(jià)：9999
GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介...
四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜...
TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：9999
TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x是一款專門針對(duì)于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測(cè)試高溫系統(tǒng)，常見的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測(cè)試。設(shè)備...
JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)是將焦耳熱閃蒸技術(shù)與冷熱臺(tái)相結(jié)合的極寬溫域、超快速度材料合成和調(diào)控系統(tǒng)，可有效調(diào)控合成材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。我們提供常溫的...
SMA-01型形狀記憶合金特性測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SMA-01型形狀記憶合金特性測(cè)試系統(tǒng)是一款高精度，觸摸屏控制的測(cè)試儀，采用精密步進(jìn)電機(jī)控制拉力，位移，高精度的位移、應(yīng)力測(cè)量，可以實(shí)時(shí)顯示電阻、溫度、位移、力...
HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
電阻率表征技術(shù)是典型的金屬、合金相變行為研究手段，比如在鋼中的碳運(yùn)動(dòng)行為分析、或是合金析出動(dòng)力學(xué)研究、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面。電阻率對(duì)這些相變行...
GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng)是一款專為實(shí)驗(yàn)室研制的高精度高溫高壓壓電容測(cè)試系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)的測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)...
型高溫超導(dǎo)材料交流磁化率測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：9999
HTCAS-300型高溫超導(dǎo)材料交流磁化率測(cè)量?jī)x
高溫鐵電材料性能測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
GWTF-300高溫鐵電材料性能測(cè)試系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng)，旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在...
高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)（包含薄膜 參考價(jià)：9999
GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能，該系統(tǒng)可以*實(shí)現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測(cè)...
高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量...
高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀 電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀 電阻測(cè)試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評(píng)估測(cè)量絕緣材料電學(xué)性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)...
熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測(cè)領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計(jì),光譜儀,以及紅外...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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