目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測試儀>>熱電材料參數(shù)測試儀>> BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 |
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熱力發(fā)電是一種通過熱電效應(yīng)材料產(chǎn)生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物理學(xué)家在1821年發(fā)現(xiàn)的。面對當(dāng)前的全球由二氧化碳排放以及化學(xué)材料消耗而導(dǎo)致的溫室效應(yīng)，熱電轉(zhuǎn)變器件引起了注意，因為可以有效利用余熱。為了迎合這種急迫的需求公司為這些材料和器件開發(fā)了特性評估裝置。
+ 擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；
+ 測量是由計算機控制的，并且能夠在的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；
+ 歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；
+ 可以用適配器來測量薄膜；
+ 可定制高阻型。
測試原理：
樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測量是通過測量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動勢來確定。
電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數(shù)（seebeck）和電阻都可以用一種儀器來測量。該系統(tǒng)可用于對于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。
主要技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍： 室溫-600℃，800℃ ，1000℃多種范圍可選擇
溫度設(shè)定范圍:測溫步數(shù)和溫度采樣測量步數(shù)：最大125步
測量方法 :溫差電動勢：靜態(tài)直流法
電阻率：四電極法
氣氛: 氬氣或氮氣
樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長6~22 mm（最大）
導(dǎo)線間距:4，6，8 mm
電源供應(yīng):200 VAC，單相，40 A（M8，M10規(guī)格）
100 VAC，單相，20 A（L規(guī)格，M8和M10規(guī)格）
冷卻水需求:自來水,水壓大于1.5 kgf/cm2,流量大于7 L/min
樣品溫差：MAX.50℃
測量方式：電腦全自動測量
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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