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產(chǎn)品分類品牌分類

測量/計量儀器: 耗材全自動二次元測量儀線寬線徑測量儀激光干涉儀視覺檢測儀水滴/液滴分析儀晶圓厚度測量儀芯片應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力翹曲度儀輪廓測試儀聲速儀地面滑度摩擦測試儀千分尺光纖認證測試儀激光測距儀 UV能量測試儀電梯限速器測試儀密度儀張力儀轉(zhuǎn)速、振動、頻閃儀表界面物性測試

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硅片表面形貌測量
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth,bottom...

型號： VIT系列所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/24 16:24:24 對比

表面輪廓儀硅片表面形貌儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
Hysitron 納米力學(xué)測試系統(tǒng)
Hysitron 納米力學(xué)測試系統(tǒng)布魯克專門設(shè)計的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測試儀器在緊湊平臺中提供了業(yè)界的、定量納米力學(xué)表征技術(shù)。以被廣...

型號：所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/24 11:46:49 對比

納米粒度儀納米力學(xué)儀納米測試儀納米分析儀納米力學(xué)系統(tǒng)
紅外干涉測量設(shè)備
紅外干涉測量設(shè)備適用于可讓紅外線通過的材料硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平...

型號： FSM 413 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/23 11:57:22 對比

紅外干涉光測厚儀反射膜測厚儀白光測厚儀光學(xué)薄膜測厚儀顯微反射測厚儀
三維表面測量系統(tǒng)
三維表面測量系統(tǒng)布魯克NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題...

型號： NP Flex 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 18:19:37 對比

表面輪廓儀臺式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
納米力學(xué)測試系統(tǒng)
納米力學(xué)測試系統(tǒng)布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度?；诤Ｋ紕?chuàng)幾十年的技術(shù)，他為納米力學(xué)表征帶...

型號： TI 980 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2023/5/22 13:34:06 對比

納米粒度儀納米力學(xué)儀納米測試儀納米分析儀納米力學(xué)系統(tǒng)

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