首頁(yè)>>深圳市達(dá)瑞博電子有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>顆粒檢測(cè)儀
顆粒檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測(cè)儀是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測(cè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過(guò)程中的缺陷檢測(cè)與分類。該系統(tǒng)采用先進(jìn)的...
顆粒檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測(cè)儀是一種用于晶圓檢測(cè)和計(jì)量的系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn)，具有多種功能和特...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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