目錄:深圳市達(dá)瑞博電子有限公司>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>顆粒檢測(cè)儀>> SFS6420顆粒檢測(cè)儀
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更新時(shí)間：2024-09-23 20:21:29瀏覽次數(shù)：436評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
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KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測(cè)儀
名稱(chēng)：KSLA-Tencor SFS6420
制造商：KLA-Tencor
尺寸：8英寸
粒子檢測(cè)與計(jì)數(shù)
用于檢測(cè)粗糙表面如多晶硅和鎢的亞微米粒子
提供比0.10 μm更優(yōu)敏感性的精細(xì)度
表面分析工具
設(shè)計(jì)用于滿(mǎn)足廣泛應(yīng)用的需求
利用最新光學(xué)技術(shù)，易于在粗糙表面上檢測(cè)亞微米粒子的能力
高速自動(dòng)化測(cè)試
能實(shí)時(shí)分析現(xiàn)場(chǎng)條件，適用于在線(xiàn)和離線(xiàn)應(yīng)用
每小時(shí)可運(yùn)行500個(gè)晶圓的自動(dòng)化測(cè)試能力
多傳感器技術(shù)
提供創(chuàng)新的特性，如多傳感器技術(shù)
實(shí)時(shí)信息提供
通過(guò)統(tǒng)計(jì)分析和趨勢(shì)分析為用戶(hù)提供與產(chǎn)品質(zhì)量相關(guān)的實(shí)時(shí)信息
晶圓檢測(cè)系統(tǒng)
用于監(jiān)控裸硅晶圓及其表面粒子和缺陷
PCB ASSY BELOW WFR DET FOR SFS6420
與KLA-Tencor的其他設(shè)備兼容，用于PCB組裝板下的WFR檢測(cè)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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