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詳細摘要： Photrix 紅外測溫儀，具有優(yōu)異的信噪比，測溫下限可低至75℃，上限可高達2600℃的數(shù)字式高溫計。非常適用于閉環(huán)控溫。

詳細摘要： UV 400 測溫儀用于GaN基外延的晶圓表面溫度和反射率真實測量，溫度范圍650…1300℃

詳細摘要： Photrix 外延片測溫儀，具有優(yōu)異的信噪比，測溫下限可低至75℃，上限可高達2600℃的數(shù)字式高溫計。非常適用于閉環(huán)控溫。

詳細摘要： UV400 GaN基外延片測溫儀用于GaN基外延的晶圓表面溫度和反射率真實測量，溫度范圍650…1300℃

詳細摘要： Sekidenko OR4000T 紅外測溫儀可實現(xiàn)兩通道多波長測溫。其光學系統(tǒng)可依據(jù)具體應(yīng)用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管。相較于Sekidenko OR4000...

詳細摘要： Sekidenko OR4000E 外延片測溫儀可實現(xiàn)兩通道多波長測溫。其光學系統(tǒng)可依據(jù)具體應(yīng)用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管。相較于Sekidenko OR400...

詳細摘要： Sekidenko OR400T 外延片測溫儀可根據(jù)材料類型和所需溫度范圍配置波長?？筛鶕?jù)具體應(yīng)用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管光學系統(tǒng)。

詳細摘要： Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長3.3或5.2μm，具有RS232數(shù)字輸出和模擬輸出接口，適用于薄膜太陽能，玻璃，半導體工藝溫度的精確測量...

詳細摘要： Sekidenko MXE 外延片測溫儀采樣速率高達10kHz，并可實時測量反射率和溫度，確保了動態(tài)測量的精確性。該產(chǎn)品有三種配置，分別為：溫度測量；反射率測量...