ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿...
ZEM15C臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15C臺式掃描電鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲ZEM15C臺式掃描電子顯微鏡。
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機 參考價：面議
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化。
ZEM系列臺式掃描電鏡-能譜一體機 參考價：面議
ZEM系列臺式掃描電鏡-能譜一體機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。
ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡 ZEM Ultra臺式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng)，不僅具有快速成像、全自動操作等特點，還具備出色的抗震...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統(tǒng)，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子， 電子，機電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學(xué)研...
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng)超低震動干式液氦光學(xué)低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導(dǎo)熱隔震，實現(xiàn)樣品臺納米級的機械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動影響，產(chǎn)品設(shè)計安裝在光學(xué)隔震平臺...
澤攸手動探針臺系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸手動探針臺系統(tǒng)，可定制手動探針臺系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06產(chǎn)品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規(guī)、智能溫控儀等組成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價：面議
澤攸SEM納米探針臺產(chǎn)品實現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、使用場景多樣化、完善的技術(shù)解決方案、直觀、方便、高度集成。
全自動臺階儀 JS3000B 參考價：面議
國產(chǎn)全自動臺階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可...
全自動臺階儀 JS2000B 參考價：面議
國產(chǎn)全全自動臺階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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