目錄:北京儀光科技有限公司>>臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析>>澤攸臺(tái)階儀>> 全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B
| 參考價(jià) | 面議 |
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2025-04-21 21:57:40瀏覽次數(shù)：584評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,地礦,能源,汽車及零部件,綜合 |
國(guó)產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
應(yīng)用范圍
▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測(cè)量
▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測(cè)量
▲ 各式薄膜等應(yīng)力測(cè)量
▲ 3D掃描成像
▲ 計(jì)劃任務(wù)和多點(diǎn)掃描
▲ 批量測(cè)試晶圓，批量處理數(shù)據(jù)等
▲ EFEM（LP+ROBOT+ALINGER)
▲ JS300B
▲ 高度校準(zhǔn)標(biāo)樣
▲ FFU模塊
▲ 靜電消除模塊
▲ E84接口
軟件界面
掃描圖
18nm樣品
68um樣品
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
3
化工儀器網(wǎng)