目錄:南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司>>失效分析設(shè)備>>封裝工藝檢測(cè)設(shè)備>> 半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡
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更新時(shí)間：2024-11-07 12:24:03瀏覽次數(shù)：1026評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電氣,綜合 |
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半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡
| 晶圓缺陷檢測(cè)，晶圓集成電路分析
晶圓缺陷檢測(cè)-反射光暗場(chǎng) |
新一代智能3D數(shù)碼顯微鏡
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡
一、公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測(cè)試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。
二、這些品牌包括：探針臺(tái)系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測(cè)試系統(tǒng)制造商MAURY；測(cè)量?jī)x器制造商KEYSIGHT；的模型服務(wù)商Modelithics；EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。
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