目錄:南京芯測軟件技術(shù)有限公司>>失效分析設(shè)備>>封裝工藝檢測設(shè)備>> 掃描電鏡
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電氣,綜合 |
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掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列
Sigma 系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗緊密地結(jié)合在一起。
掃描電鏡利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程，可輕松實現(xiàn)構(gòu)建成像和分析程序，提高工 作效率。您可以在更短的時間內(nèi)采集到更多數(shù)據(jù)。Sigma 可以搭載多種探測器， 以滿足不同應(yīng)用需求：顆粒物、表面結(jié)構(gòu)、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層及多層膜等樣品成像。
Sigma 300 具有非常高的性價比；
Sigma 500 因其出色的 EDS 幾何學設(shè)計，擁有出眾的分析性能。
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在單個探測器中獲取形貌和成分襯度信息。使用 aBSD 在 5 kV 和高真空條件下對太陽能電池成像，左：成分襯度模式，右： 形貌模式。 | 高效直觀的 Sigma 4 步工作流程。 | 先進的 EDS 幾何學設(shè)計加速了 X 射線的分析。 |
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