HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng) 參考價：面議
芯片ESD測試設(shè)備，HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設(shè)計的開發(fā)和半導體制造的...
GP200探針臺 參考價：面議
進口探針臺,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時間內(nèi)準確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等...
全自動芯片ESD測試設(shè)備 參考價：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設(shè)備近年來，自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前先進技術(shù)，解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于...
GP200-8英寸手動探針臺 參考價：面議
GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內(nèi)準確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
8英寸高低溫探針臺 參考價：面議
GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內(nèi)準確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、R...
硅光探針臺 參考價：面議
硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內(nèi)可準確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。GP200擁有穩(wěn)定且...
GP半自動探針臺 參考價：面議
GP半自動探針臺，GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案?？蓱糜贗-V/C-V/...
GP300探針臺 參考價：面議
大功率探針臺,GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單，機臺可輕松實現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
半導體器件參數(shù)分析儀 參考價：面議
Keysight B1500A半導體測試設(shè)備, 半導體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀，能夠測量 IV、CV、脈沖/動態(tài) IV 等參數(shù)。 主機和插入式模塊能...
毫米波測試網(wǎng)分儀 參考價：面議
N5290A和N5291A 是毫米波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）解決方案的主要配置之一。 這兩個系統(tǒng)均對硬件和選件進行了全面配置，以支持寬帶S參數(shù)測量。附加測量應用...
高清晰度示波器 參考價：面議
高清晰度示波器特點8 GHz帶寬4個模擬和16個數(shù)字通道借助我們先進的系統(tǒng)架構(gòu)，實現(xiàn)高達16位的垂直分辨率以最大20 GSa / s的采樣率和100 Mpts ...
波形發(fā)生器 參考價：面議
是德高性能任意波形發(fā)生器使用低噪聲時鐘，可以提供性能和高質(zhì)量的信號生成，以實現(xiàn)信號保真度。無論您需要臺式設(shè)備或者直接在系統(tǒng)中應用的 AXIe、LXI 或 PXI...
頻譜儀 參考價：面議
· 使用各種硬件平臺滿足不斷變化的測試需求—無論是研發(fā)領(lǐng)域追求的最高性能，還是制造環(huán)節(jié)恰到好處的性能· 利用業(yè)界*泛的特定頻譜分析軟件，實施...
信號發(fā)生器（信號源） 參考價：面議
· 擁有最多信號發(fā)生器的型號可供選擇，并且每個型號的性能都同類產(chǎn)品，因此無論您需要可追溯的計量級解決方案，還是需要經(jīng)濟高效的基礎(chǔ)型信號發(fā)生器，是德科技...
PNA-X 脈沖網(wǎng)絡(luò)儀 參考價：面議
PNA-X 脈沖網(wǎng)絡(luò)儀使用 PNA-X/PNA/PNA-L 可以獲得功能和性能（頻率高達 120 GHz，通過頻率擴展器可以進一步擴展到 1.5 THz）。
ZEISS 光學微光顯微鏡 參考價：面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產(chǎn)品特點：具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統(tǒng)。 基于“向前看"理念的升級設(shè)計。
掃描電鏡 參考價：面議
掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗緊密地結(jié)合在一起。
半導體場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒，創(chuàng)下了表面成像技術(shù)新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調(diào)節(jié)引擎是為方便您...
半導體光學/共聚焦顯微鏡 參考價：面議
半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務。
德國進口晶圓光學檢測設(shè)備 參考價：面議
德國進口晶圓光學檢測設(shè)備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務。
芯片X‘ray檢測設(shè)備 參考價：面議
憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導體測試系統(tǒng)解決方案。YXLON X射線檢測機被設(shè)計用于為SMT，半導體和實驗室封裝應用領(lǐng)域提供同級別產(chǎn)品中...
芯片封裝焊接強度測試儀 參考價：面議
芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務。
HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介 參考價：面議
ESD測試設(shè)備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設(shè)計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HE...
HANWA HED-C5000R CDM測試設(shè)備 參考價：面議
CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設(shè)備
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