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當前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>微納加工平臺-圖形發(fā)生>>光刻/鍵合系統(tǒng)>> EVG-600系列EVG®610 掩模對準系統(tǒng)
Automated Production Wafer Bonding
EVG®610 Mask Alignment System
EVG®610 掩模對準系統(tǒng)
EVG®610是一款緊湊的多功能研發(fā)系統(tǒng),可處理200mm以下的小基板片和晶圓。
技術數據
EVG610支持多種標準光刻工藝,例如真空,硬,軟和接近曝光模式,并可選擇背面對準。此外,該系統(tǒng)還提供其他功能,包括鍵對準和納米壓印光刻(NIL)。 EVG610提供快速的處理和重新安裝工具,可在不到幾分鐘的時間內轉換用戶需求。其先進的多用戶概念可以適應從初學者到專家級別的所有需求,因此使其非常適合大學和研發(fā)應用。
特征
晶圓/基片尺寸從大200 mm / 8'’ 頂側和底側對齊能力
高精度對準臺 自動楔形補償序列
電動和配方控制的曝光間隙 支持的UV-LED技術
小化系統(tǒng)占地面積和設施要求 分步流程指導
遠程支持:
多用戶概念(無限數量的用戶帳戶和配方,可分配的訪問權限,不同的用戶界面語言)
敏捷處理和轉換重組;臺式或帶防震花崗巖臺的單機版
附加功能:
鍵對齊 紅外對準 納米壓印光刻(NIL)
技術數據
對齊方式:上側對齊:≤±0.5 µm 底面要求:≤±2,0 µm
紅外校準:≤±2,0 µm /基板材料,具體取決于
鍵對準:≤±2,0 µm NIL對準:≤±2,0 µm
曝光源:汞光源/紫外線LED光源 楔形補償 全自動-SW控制
晶圓直徑(基板尺寸):高達100/150/200毫米
曝光設定:真空接觸/硬接觸/軟接觸/接近模式
曝光選項:間隔暴露/洪水暴露/扇區(qū)暴露
先進的對齊功能:手動對準/原位對準驗證 手動交叉校正 大間隙對齊
系統(tǒng)控制:作業(yè)系統(tǒng):Windows
文件共享和備份解決方案/無限制配方和參數;多語言用戶GUI和支持:CN,DE,FR,IT,JP,KR;實時遠程訪問,診斷和故障排除;
納米壓印光刻技術,紫外線零。
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