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當前位置：九域半導體科技（蘇州）有限公司>>產(chǎn)品展示>>硅片方阻測試儀>>無損方塊電阻測試儀
主要利用結光電壓技術非接觸測試具有P/N或N/P結構的樣品的方阻(發(fā)射極薄層方阻），本儀器為非接觸，非損傷測試，具有測試速度快，重復性佳，測試敏感性高，可以直接...
無損方塊電阻測試儀包含一個渦流傳感器組，感應弱電流到導電薄膜和材料。非接觸式薄膜方塊電阻測量儀試樣中的感應電流產(chǎn)生與測量對象的片電阻相關的電磁場。電渦流技術不依...
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