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當(dāng)前位置：九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司>>產(chǎn)品展示>>硅片方阻測試儀>>硅片電阻率測試儀
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，晶圓的厚度測量是至關(guān)重要的一環(huán)，它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測量的需求，我們研發(fā)了一款對射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測量設(shè)...
金剛石膜檢測與測試報(bào)告 檢測項(xiàng)目 金剛石膜的檢測項(xiàng)目主要包括以下幾個方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。
硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學(xué)測量技術(shù)，如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中，反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計(jì)算硅片厚...
硅片電阻率測試儀：電阻率（resistivity）是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下，有公式R=ρl/S，其中ρ就是電阻率，l為材料的長度，...
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